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- 测量元素范围：钠（Na）到铀（U）
- 元素含量分析范围： ppm—99.99%（不同元素，分析范围不同）
- 同时分析元素：一次性可测几十种元素
- 测量时间：60秒-200秒
- 能量分辨率为：145±5eV
- 管压：5KV-50KV
- 管流：50uA-1000uA
- 外形尺寸：660mm×510mm×350mm
产品介绍
矿石光谱分析仪是使用X射线照射试样，对产生的X射线荧光进行解析，用以分析试样元素和含量的装置。由于X荧光光谱仪器使用方便、快捷，高，成本低等特点，已经在很多行业得到广泛的应用。尤其在地质矿产行业，其应用更得到客户的认可。
天瑞仪器生产的3600K\SUPER2400\EDX4500H台式系列和便携式系列X荧光光谱分析仪，就是在地质矿产行业应用非常成功的几款光谱仪器，它们具有以下特点：
1、 分析速度高。测定用时与测定精密度有关，但一般都很短，2～5分钟就可以测完样品中的全部待测元素，并达到测量要求。
Genius7000型便携式光谱矿石分析仪
产品概述
Genius 7000 XRF系列是专门针对在现场、野外进行X荧光分析应用而设计的仪器，可充分满足检验地质样品、岩芯、原矿、废弃物、精矿、尾矿的现场分析，对各类样品进行快速识别和成份分析鉴别。具有体积小，重量轻，普通人可手持测量的特点；
EDX4500H型光谱矿石分析仪
光谱矿石分析仪是利用XRF检测原理实现对各种元素成份进行快速、准确、无损分析。
该仪器的主要特征是利用智能真空系统，可对Si、P、S、Al、Mg等轻元素具有良好的激发效果，利用XRF技术可对高含量的Cr、Ni、Mo等重点关注的元素进行分析，在冶炼过程控制中起到了测试时间短，大大提高了检测效率和工作效率的作用。
另外，在合金分析、全元素分析、有害元素检测应用上也十分广泛。
性能特点
高效超薄窗X光管，指标达到国际先进水平
新的数字多道技术，让测试更快，计数率达到100000CPS，更高。在合金检测中效果更好
SDD硅漂移探测器，良好的能量线性、能量分辨率和能谱特性，较高的峰背比
技术参数
产品型号：EDX 4500H
产品名称：X荧光光谱仪
测量元素范围：从钠（Na）到铀（U）
同时分析元素：性可测几十种元素
测量时间：30秒-200秒
标准配置
光谱矿石分析仪高效超薄窗X光管
SDD硅漂移探测器
数字多道技术
信噪比增强器 SNE
光路增强系统
光谱矿石分析仪应用领域
光谱矿石分析仪合金检测、全元素分析、有害元素检测（RoHS、卤素）.
