利用X射线荧光（XRF）进行镀层厚度测量和材料分析，过程和质量控制。
X-Strata是结构紧凑、坚固耐用、用于质量控制的的台式X射线荧光分析设备，提供简单、快速、的镀层厚度测量和材料分析。
它在工业领域如电子行业、五金电镀行业、金属合金行业及贵金属分析行业表现出卓越的分析能力，可进行多镀层厚度的测量。
镀层测厚仪X-Strata系列提供：
分析：无需样品制备
经行业的技术和性，每年都带来收益
操作简单，要简单的培训
分析三步骤
杰出的分析准确性和性
在镀层测厚领域拥有过20年的
使用大、操作简单的X射线荧光光谱仪进行镀层厚度测量，质量的同时降。
X-Strata是结构紧凑、坚固耐用、用于质量控制的的台式X射线荧光分析设备，提供简单、快速、的镀层厚度测量和材料分析。
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分析：无需样品制备
经行业的技术和性，每年都带来收益
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使用大、操作简单的X射线荧光光谱仪进行镀层厚度测量，质量的同时降。
