相移电子散斑干涉（PI）技术是继光弹性和全息干涉等光测力学方法之后发展起来的一种实验力学新方法。它直接依靠激光干涉和计算机图像采集处理系统获得干涉条纹。这种方法在工程上已经得到了较广泛的运用，可用于解决工程中的强度和刚度问题，并可用于残余应力测量。
其他说明
| 主要技术参数指标: ◆ 光源:半导体泵浦固体激光器(绿光) , 输出功率大于 20mw , 波长 532nm ◆ 相机: 1280 &tim; 1024 U2.0 数字摄像头 ◆ 镜头: 25mm 定焦镜头(标配),可选配其它 C 接口镜头 ◆ 工作距离: 400 ~ 800mm ◆ 相移器: 5nm ◆ 演示试件: 圆盘受均布载荷,三点弯曲梁 ◆ 范围:￠ 300mm ◆ 尺寸: 520cm &tim; 370cm &tim; 250cm ◆ 重量: 22kg |
