PhaseView公司的MicroPhase-DCM200数码共聚焦显微镜可以率的观察和测量各种工业生产与研究、、考古学和刑侦学等不同领域中出现的的，有学意义的敏感表面。
一个精密的数码共聚焦模块连接到您使用的光学显微镜，它以30帧每秒的纵向扫描方式，采集和测量您的样品表面显微形貌，从而得到一个的，三维的，高分辨率显示的黑白或真彩色表面形貌图。
易于使用的软件提供许多分析选项，包括粗糙度和波纹度测量，台阶高度评价和颗粒分析等等。用户自定义的试验可以把图像和各种测量结果结合在一起，将大大扩展您的研究空间，增加您的工作效率。
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